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    • 產品資料

    超薄膜附著強度測試儀

    如果您對該產品感興趣的話,可以
    產品名稱: 超薄膜附著強度測試儀
    產品型號: CSR-2000
    產品展商: 其它品牌

    簡單介紹

    基于JIS R-3255標準，以MICRO SCRATCH法評價光學薄膜、半導體擴散工程、表面改質以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材，或薄膜與界面之間的密著力（附著強度）的超薄膜附著強度測試儀。為成膜研究與測試所必備的測試設備。


    超薄膜附著強度測試儀  的詳細介紹
    超薄膜附著強度測試儀
    基于JIS R-3255標準，以MICRO SCRATCH法評價光學薄膜、半導體擴散工程、表面改質以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材，或薄膜與界面之間的密著力（附著強度）的超薄膜附著強度測試儀。
    超薄膜附著強度測試儀的概要及特點
    超薄膜附著強度測試儀的概要
    原子化（分子化）的膜材料到達基材表面成型時，與基材表面的原子的結合數會直接影響到膜的密著強度。這個結合數，受分子的能量狀態、基板的清洗狀態等的影響。在與成膜有關的研究開發機工程管理中，可使用本設備進行密著強度的評價。
    以往的劃痕測試儀，摩擦膜表面造成破壞點時，依靠摩擦力的變化及音響信號等來評價密著強度。但是，膜厚在微米級以下的薄膜的破壞點很難檢測出來。為解決這個問題，采用高感度的能夠檢測出薄膜破壞的MICRO SCRATCH法，測試納米級別的薄膜的附著強度。*適合評價液晶顯示屏的透明電極膜、光學薄膜、DLC、磁盤的保護膜等的附著強度。
    超薄膜附著強度測試儀的特點
    • 具有直線增加荷重的控制功能，在鏡頭等的曲面上也能做測試
    • 可以進行以特定荷重來評價的特定負荷測試
    • 基于信號的FFT分析功能，高感度進行剝離檢測
    • 測試部位的設定以及測試后的劃傷觀察等簡單易行
    • 測試不需要花費很多時間(1次測試約1～2分鐘)
    • 與小型硬度計等薄膜物性測試儀相比，能夠在普通的操作臺上測試
    能進行JIS R-3255標準(以剝離為基板的薄膜附著性測試方法)的測試
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